Новости

11.09.2017
Новое решение для тестирования коэффициента битовых ошибок от Keysight Technologies
 
Новое решение для тестирования коэффициента битовых ошибок со скоростью до 64 Гбод от Keysight Technologies существенно упрощает настройки испытаний и ускоряет тестирование приемников стандарта 400G
 
Самый высокоинтегрированный в отрасли тестер коэффициента битовых ошибок (BERT) для сигналов PAM-4 и NRZ теперь оснащен новым регулируемым корректором
Ключевые нововведения:
Упрощенная настройка тестирования приемника благодаря высокоинтегрированному генератору кодовых последовательностей
Стабильные результаты по восстановлению раскрыва глазковой диаграммы благодаря встроенному корректору
Возможность масштабирования и обновления в соответствии с будущими потребностями
 
Компания Keysight Technologies, Inc. (NYSE: KEYS) объявила о внедрении усовершенствований в высокопроизводительный тестер коэффициента битовых ошибок (BERT) M8040A, предназначенный для тестирования устройств PAM-4 и NRZ, которые поддерживают символьную скорость до 64 Гбод. Инженеры научно-исследовательских центров и лабораторий, которые занимаются анализом параметров приемников на физическом уровне для новых центров обработки данных стандарта 400G, смогут в полной мере оценить все преимущества упрощенной настройки тестирования и возможности получения стабильных и точных результатов измерений. 
 
Чтобы соответствовать требованиям, касающимся роста пропускной способности, повышения мощности, расширения сферы деятельности и объема услуг, современные центры обработки данных постоянно развивают и оптимизируют свою инфраструктуру. Более высокие скорости передачи данных, увеличение числа каналов передачи данных и поддержка новых многоуровневых форматов данных, таких как PAM-4, — все это призвано удовлетворить потребность в более высокой пропускной способности линий связи в центрах обработки данных нового поколения. 

Приглашаем Вас посетить стенд Keysight Technologies на выставке "ЭлектронТехЭкспо" 17-19 апреля в Москве, в МВЦ "Крокус Экспо". 


Узнать условия участия в выставке >>