FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237

Основные характеристики:
  • • измерения очень тонких покрытий (напр., золото/палладий ≤ 0,1 мкм)
  • • измерения толщины покрытий и состава в электронной и полупроводниковой промышленности
  • • измерение и анализ очень тонких покрытий даже при очень сложных композициях или в небольших концен
  • • программируемая X/Y-платформа позволяет использовать прибор для автоматизированных измерений в обл
  •  Диапазон измеряемых элементов: от Al (z=13) до U (z=92).
  •  Кремниевый PIN (полупроводниковый) детектор с охлаждающим элементом Пельтье (не нуждается в охлажд
  •  Коллиматоры: 0,1 мм; 0,3 мм; 0,6 мм; 0,5x0,15 мм
  •  Размеры измерительной камеры (Ширина x глубина x высота): 460 х 495 х 146 мм
Наименование компании: АСК-РЕНТГЕН, ООО
Показать стенд B841 на плане →